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硅基负极膨胀原位快筛系统介绍:
四通道同步测试硅基体系或石墨体系的软包、叠片和模型扣电的原位充放电过程中的实时膨胀厚度性能,用于材料或者电芯膨胀性能评估。
硅基负极膨胀原位快筛系统应用:
软包、叠片和模型扣电的原位膨胀厚度测试。
主要特点:
1.原位表征硅基体系电芯不同压力下的膨胀厚度变化;
2.四通道同步测试多个电芯;
3.适应多种电芯结构的原位测试:模型扣电、叠片电池、软包电池等
4.可视化操作界面,一键导出数据报告。
参数:
1.通道数:4
2.压力调控模式:配重块或伺服电机
3.压力范围:0.5kg/1kg/5kg(可根据具体需求定制),1~100kg
4.压力精度/分辨率:±0.01kg,0.1kg/±0.3%F.S.
5.厚度检测范围:±5mm
6.厚度检测分辨率/精度:0.1μm/±1μm,0.01μm/±0.1μm
7.系统误差:≤3%
8.可测量最大电芯尺寸:60*90*4mm(可根据具体需求定制)
【领域应用】:
仪器广泛用于高分子材料生产企业、印染工业企业、纺织品检验部门、科研单位、纺织院校等。
仪器也适用于研发新产品的性能验证,生产部门的品质控制,第三方检测机构,实验室产品性能验证,质量技术监督部门等对材料性能的测定。
【优势特点】:
1.具有强大的售后服务团队
2.能够及时、快速处理好各种问题,为客户解除后顾之忧
3.零配件齐备,解决订购零配件货期长的烦恼
4.紧跟行业标准更新,及时提供符合新标准的测试仪器